本工序主要目的是将置球完毕整条(Strip)的产品,分割成单独的正式的BGA产品。主要有三种方式:剪(Punch),切(Saw),铣(Rout),如下图所示。
Punch:利用特定的治具,在冲床上把BGA封装一个一个的剪切下来;
Saw:把Strip贴在Tape上(防止切割后封装散落),利用真空牢牢吸附在切割机的切割平台上,切割刀片高速旋转,并按照程序的设定沿着封装BGA封装边缘移动,将Strip上的BGA单独切割开来。
Rout:Strip固定在铣床上,铣刀高速旋转并围绕Strip上BGA封装的边缘移动,利用铣刀的切割作用,将每一个BGA封装单独铣切下来。
Strip切单的三种方式
Punch的视频在前面章节已有,下面是Strip切割的视频,仅供参考。
切单后的封装,被从tape上取下,并整齐的放入Tray盘,如下图所示。
拾取设备及装tray
主要有目检,光学检测,X-ray检测等,如下图所示。
目检:以目视的方法检验切单后的封装的外观不良,例如印字缺陷、塑封缺陷、切单缺陷等。
光学检测:检测封装后产品的外型是否满足规格(如翘曲度),以及焊球的质量缺陷,如少球、焊球偏移等。
X-ray检测:通过X射线透视封装内部结构,检测金线(断裂、短路等),塑封(空洞、分层等),锡球(脱焊,偏移等)。
光学检测设备,目检及X-ray检测机
下一章节,我们会继续SiP的工艺流程,讲述Testing工序,敬请关注。